高溫試驗(yàn)箱的測(cè)試目的主要是測(cè)試樣品在高溫環(huán)境條件下使用以及貯存的適用性。僅僅適用于經(jīng)過(guò)很長(zhǎng)的升溫的時(shí)間之后，就能達(dá)到的溫度穩(wěn)定商品。測(cè)試持續(xù)時(shí)間都是以樣品在規(guī)定的實(shí)驗(yàn)溫度等級(jí)上需要達(dá)到溫度溫度的瞬間開(kāi)始來(lái)計(jì)算。那么對(duì)于測(cè)試期間不能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試樣，比如宇航產(chǎn)品都可以推薦采用特殊的高溫試驗(yàn)。

　　在高溫試驗(yàn)箱作高溫測(cè)試的方法可以選擇運(yùn)行中疑難的問(wèn)題，尤其是一些剛接觸到這測(cè)試的制造商來(lái)說(shuō)，高溫測(cè)試方法是怎么選擇是很困難，以下我們就分享幾個(gè)方法，僅供朋友們參考。

 

　　1、如果測(cè)試的目的是為了確定電工電子商品在高溫條件下或是運(yùn)作狀態(tài)下的適用和貯存，但一般是要區(qū)分散熱和非散熱的試樣。

 

　　2、散熱試樣在進(jìn)行高溫試驗(yàn)箱的測(cè)試時(shí)，要采取低空氣流速來(lái)滿(mǎn)足自由空氣的條件要求。

 

　　3、非散熱試樣在進(jìn)行高溫時(shí)，應(yīng)要采取高空氣流速。

 

　　4、低空氣流速測(cè)試時(shí)必須要求設(shè)備的風(fēng)速盡量低，一般都是沒(méi)有超過(guò)0.5m/s。

 

　　5、自由空氣條件指的是空氣在運(yùn)動(dòng)只能受到散熱試樣本身的影響，而試樣輻射的其能量是全部由周?chē)諝馕盏臈l件。

 

　　以上就是高溫試驗(yàn)箱的測(cè)試方法的相關(guān)內(nèi)容。